%0 Journal Article
%T К ВОПРОСУ О НАДЕЖНОСТИ СОВРЕМЕННЫХ  ЦИФРОВЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
%A Гриднева, И.В.
%A Камалов, Н.Р.
%A Гриднев, А.С.
%K надежность микросхем, сложность цифровых устройств, объем памяти, число отказов, интегральные схемы, внешние факторы.
%J Воронежский научно-технический вестник
%D 2020
%N 3
%P 4
%I Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова