TY  JOUR
TI  К ВОПРОСУ О НАДЕЖНОСТИ СОВРЕМЕННЫХ  ЦИФРОВЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
KW  надежность микросхем
KW  сложность цифровых устройств
KW  объем памяти
KW  число отказов
KW  интегральные схемы
KW  внешние факторы.
JO  Воронежский научно-технический вестник
AU  Гриднева, И.В.
AU  Камалов, Н.Р.
AU  Гриднев, А.С.
PY  2020
IS  3
PB  Воронежский государственный лесотехнический университет имени Г.Ф. Морозова